This paper presents the findings of a study on the current-voltage characteristics (IVC) and current self-oscillations in n++-p(Si)-p+ structures made from heavily compensated silicon. We observed that the self-oscillations in manganese-doped silicon are linked to the injection of holes. During our...
Збережено в:
| Автори: | , , , , , |
|---|---|
| Формат: | Стаття |
| Онлайн доступ: | https://doaj.org/article/896a6f804f214269927656e50dfa679a |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Будьте першим, хто залишить коментар!