This paper presents the findings of a study on the current-voltage characteristics (IVC) and current self-oscillations in n++-p(Si)-p+ structures made from heavily compensated silicon. We observed that the self-oscillations in manganese-doped silicon are linked to the injection of holes. During our...
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριοι συγγραφείς: | , , , , , |
|---|---|
| Μορφή: | Άρθρο |
| Διαθέσιμο Online: | https://doaj.org/article/896a6f804f214269927656e50dfa679a |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!